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測試半導體器件性能方法高低溫拉力試驗機

 發布時間:2023-07-11 點擊量:284

測試半導體器件性能方法高低溫拉力試驗機:

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目的:

用于測試半導體器件在不同溫度下性能的設備。它可以模擬各種環境溫度,從而對半導體器件的性能進行全面的測試和評估。用于測試半導體器件的溫度特性。在不同的溫度下,半導體器件的電性能會發生變化,因此需要對其進行測試。通過半導體高低溫測試機,可以模擬各種溫度環境,從而對半導體器件的溫度特性進行測試和評估。半導體高低溫測試機還可以用于測試半導體器件的可靠性。在不同的溫度下,半導體器件的可靠性也會發生變化。通過半導體高低溫測試機,可以模擬各種溫度環境,從而對半導體器件的可靠性進行測試和評估。半導體高低溫測試機還可以用于測試半導體器件的性能穩定性。在不同的溫度下,半導體器件的性能穩定性也會發生變化。通過半導體高低溫測試機,可以模擬各種溫度環境,從而對半導體器件的性能穩定性進行測試和評估。

試樣制備:

首先需要將待測試的芯片、集成電路等半導體器件獲取到樣品,并在其表面鍍上金屬,以便與測試機上的針腳連接。

設備連接。將測試機上的針腳和器件相連接,使測試機能夠獲取并控制芯片上的信號和電流。

溫度設定。在連接完成后,將設備進入恒溫狀態,并將其溫度設定為高低溫范圍內。

測試信號發送。當設備已經到達設定的溫度后,將測試信號發送至芯片上,以獲取該器件的性能數據。

性能參數分析。通過將性能參數與測試機的預定義值進行比較,可以確定芯片的性能情況。如果芯片的性能參數不符合預期的值,則需要對芯片進行修復或更換。

測試方法:

可提供-85~250 度的測試環境溫度,設備不直接作用于測試物件,而是連接到一個測試平臺適配器上,部件內部通過導熱介質進行加熱和冷卻測試,控制溫度精度保持在±0.3

半導體電源芯片高低溫測試均可以和電腦連接,通過組態軟件實現電腦畫面與儀器設備畫面同步,通信距離 200 米以內均可輕松實現溫度設定,實時控制畫面。7 寸彩色大屏幕,溫度曲線記錄,程序選擇及報警畫面記錄等。實現可視化、數據儲存和匯報分析。


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